利用颗粒标记物检测分析物

摘要：

特异性检测样品中一或多种分析物的方法。该方法包括特异性将样品中的任意一或多种分析物与光散射可检测颗粒相连接，用光在一定条件下照射与光相连的分析物，条件是颗粒可以产生散射光并且可以用人眼在小于５００倍的放大和没有电子放大的情况下检测到一或多个颗粒的散射光。该方法还包括作为对所述分析物存在的检测而在上述条件下检测所述任意颗粒的散射光。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN97195868.8

申请日期：1997-04-17

公开/公告号：CN1223692

公开/公告日：1999-07-21

主分类号：C12N15/87

申请/专利权人:斯佩克特拉梅特里克斯公司

发明/设计人:J·伊格拉比德; E·E·伊格拉比德; D·E·克纳; J·T·杰克森

主申请人地址:美国加利福尼亚州

专利代理机构:中国专利代理(香港)有限公司

代理人:卢新华% 罗才希

国别省市代码:美国;US

权利要求：

1．特异性检测样品中的一种或多种分析物的方法，包括如下步骤：将所述样品中的任何一种或多种分析物与一种散射光可探测颗粒特异性地连接起来，在一定条件下用光照射与所述分析物连接的任何所述颗粒，在该条件下可从所述颗粒产生散射光并且可在小于500倍放大并无电子放大的情况下肉眼检测到所述一种或多种颗粒的散射光，以及作为对所述一种或多种分析物存在的量度而在所述条件下检测任何所述颗粒的散射光。